步入式環(huán)境試驗(yàn)箱
82本試驗(yàn)箱適用于整機(jī)或大型零部件的低溫、高溫、高低溫變化、恒定濕熱、高低溫交變濕熱等試驗(yàn)??筛鶕?jù)用戶要求改變工作室尺寸與功能,采用拼塊式箱體,造型美觀大方,科學(xué)的風(fēng)道設(shè)計(jì),能滿足不同客戶的需求。;變頻自定算法控制,機(jī)組運(yùn)行綜合節(jié)能35%以上...
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本試驗(yàn)箱適用于整機(jī)或大型零部件的低溫、高溫、高低溫變化、恒定濕熱、高低溫交變濕熱等試驗(yàn)??筛鶕?jù)用戶要求改變工作室尺寸與功能,采用拼塊式箱體,造型美觀大方,科學(xué)的風(fēng)道設(shè)計(jì),能滿足不同客戶的需求。;變頻自定算法控制,機(jī)組運(yùn)行綜合節(jié)能35%以上...
查看全文本試驗(yàn)設(shè)備適用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn),通過產(chǎn)品進(jìn)行應(yīng)力篩選,加速檢驗(yàn)產(chǎn)品在設(shè)計(jì)中和缺陷,提高產(chǎn)品的可靠性; 在快速溫度循環(huán)試驗(yàn)可以找出產(chǎn)品出廠質(zhì)量問題,是目前最有效最可靠的產(chǎn)品驗(yàn)證途徑;變頻自定算法控制,機(jī)組運(yùn)行綜合節(jié)能35%以上。 ...
查看全文本系列產(chǎn)品主要應(yīng)用半導(dǎo)體封裝測試,設(shè)備分左右兩個(gè)測試箱,可同時(shí)為多層芯片帶載測試,為芯片可靠性測試驗(yàn)證提供可靠環(huán)境。 ,
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