多層半導(dǎo)體封裝測試箱
61本系列產(chǎn)品主要應(yīng)用半導(dǎo)體封裝測試,設(shè)備分左右兩個測試箱,可同時為多層芯片帶載測試,為芯片可靠性測試驗(yàn)證提供可靠環(huán)境。 ,
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本系列產(chǎn)品主要應(yīng)用半導(dǎo)體封裝測試,設(shè)備分左右兩個測試箱,可同時為多層芯片帶載測試,為芯片可靠性測試驗(yàn)證提供可靠環(huán)境。 ,
查看全文?電池環(huán)境試驗(yàn)箱是專門針對不同型號電池測試需要,在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境箱的基礎(chǔ)上,根據(jù)不同的嚴(yán)酷等級配備安全防護(hù)功能,最大程度保證人員及財產(chǎn)安全;變頻自定算法控制,機(jī)組運(yùn)行綜合節(jié)能35%以上。 ,
查看全文本系列沖擊試驗(yàn)箱采用冷熱兩箱結(jié)構(gòu),利用提籃快速轉(zhuǎn)換試驗(yàn)樣品到試驗(yàn)區(qū)域,達(dá)到冷熱沖擊試驗(yàn)?zāi)康模?該沖擊方式最大限度的減少了冷熱沖擊時的熱負(fù)載,縮短了溫度恢復(fù)時間;變頻自定算法控制,機(jī)組運(yùn)行綜合節(jié)能35%以上。 ,
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